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산화물 반도체 박막의 형성 방법, 산화물 반도체 트렌지스터, 및 산화물 반도체 트렌지스터의 형성 방법(forming method of oxide semiconductor thin film, oxide semiconductor transister, and forming method of the same)

권리구분
특허
출원일자
2009-08-06
출원번호
10-2009-0072308
등록일자
2012-04-16
등록번호
10-1139185
법적상태
등록
발명자소속
발명자
이호년
대표출원인
순천향대학교 산학협력단
단독출원여부
Y
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비고
요약
본 발명은 산화물 반도체 박막의 형성 방법, 산화물 반도체 트렌지스터, 및 산화물 반도체 트렌지스터의 형성 방법을 제공한다. 이 산화물 반도체 박막의 형성 방법은 일산화주석 분말을 소결하여 일산화주석 타켓을 형성하는 단계, 일산화주석 타켓을 진공 용기에 장착하는 단계, 기판 홀더에 기판을 장착하고 배기하는 단계, 진공 용기에 분위기 가스를 유입시키고 일산화주석 타켓에 전력을 인가하는 단계, 기판에 일산화주석을 증착하는 단계, 및 증착된 일산화주석을 열처리하는 단계를 포함한다.