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산화물 반도체 박막의 형성 방법, 산화물 반도체 트렌지스터, 및 산화물 반도체 트렌지스터의 형성 방법(forming method of oxide semiconductor thin film, oxide semiconductor transister, and forming method of the same)

권리구분
특허
출원일자
2009-08-06
출원번호
10-2009-0072307
등록일자
2012-04-16
등록번호
10-1139134
법적상태
등록
발명자소속
발명자
이호년
대표출원인
순천향대학교 산학협력단
단독출원여부
Y
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비고
요약
본 발명은 산화물 반도체 박막의 형성 방법, 산화물 반도체 트렌지스터, 및 산화물 반도체 트렌지스터의 형성 방법을 제공한다. 이 산화물 반도체 박막의 형성 방법은 일산화주석 분말을 제공하는 것, 일산화주석 분말을 진공 용기의 내부의 가열용기에 장착하는 것, 기판 홀더에 기판을 장착하고 배기하는 것, 가열용기를 가열하여 상기 일산화주석 분말을 증발시키는 것, 증발된 일산화주석을 기판에 증착하는 것, 및 증착된 일산화주석을 열처리하는 것을 포함한다.